BTI是电路故障中一个重要的现象，英文全称为Bias Temperature Instability。这个现象建立在CMOS器件的一种自然衰变机制上。当芯片内电流或电压发生变化时，会对器件中的硅酸盐制造物产生影响，最终导致电路失效。而BTI是由于器件内部极化电场的漂移所导致的非易失性失效问题。
BTI的形成与器件的使用及制造工艺有关。通过测试及研究发现，BTI与晶体管的电场强度、工作环境、保持时间等因素有关。当电场强度过大或保持时间过长时，BTI会大大缩短芯片的使用寿命。BTI还会导致电路性能的不稳定性和功耗增加，在高性能芯片中会表现得尤为明显。
对BTI进行研究和解决方案
在目前高度集成的芯片中，BTI通常被认为是限制芯片寿命的一个最重要因素之一。为此，许多半导体公司都投入了大量资金对BTI问题进行研究，并提出了一系列解决方案。比如改进晶体管的结构、减少晶体管数量、优化电子设备的工作温度等方法，目的是减少BTI产生和缓解BTI的影响，使芯片具有更长的使用寿命和更好的性能表现。

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摩托罗拉V3开机按键失灵怎么处理?
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xersbti 已赞过 已踩过< 你对这个回答的评价是? 评论 收起 knowbldu 2008-09-17 · TA获得超过3.4万个赞 知道大有可为答主 回答量:5157 采纳率:0% 帮助的人:2125万 我也去答题访问个人页 关注 展开全部 1938年停止"庚子赔款"。至此,中国共赔款白银已近6.532亿两 本回答被提问者采纳 ...